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簡要描述：Epsilon 4 X射線熒光光譜儀馬爾文帕納科借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經(jīng)驗(yàn)打造而成，Epsilon 4 是一款多功能臺(tái)式 XRF 分析儀，廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各個(gè)領(lǐng)域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業(yè)細(xì)分市場(chǎng)。 Epsilon 4 將激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)與成熟軟件和智能設(shè)計(jì)相結(jié)合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-01-17訪 問 量：1654詳細(xì)介紹
| 品牌 | 馬爾文帕納科 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的經(jīng)驗(yàn)打造而成，Epsilon 4 是一款多功能臺(tái)式 XRF 分析儀，廣泛用于從研發(fā)到流程控制等各個(gè)領(lǐng)域中需要從氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行業(yè)細(xì)分市場(chǎng)。 Epsilon 4 將激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)與成熟軟件和智能設(shè)計(jì)相結(jié)合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。
對(duì)于傳統(tǒng)上由 ICP 和 AAS 來實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜應(yīng)用，這提供了一個(gè)簡單易行的替代方案。通過將 XRF 光譜儀放置在生產(chǎn)線旁邊，嘗試進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)或在線 XRF 監(jiān)控，您的反饋時(shí)間將從幾小時(shí)縮短到幾分鐘。
Epsilon 4 光譜儀具有高靈活性，適用于廣泛的專業(yè)應(yīng)用， 隨時(shí)準(zhǔn)備為您創(chuàng)造價(jià)值。
由于較低的基礎(chǔ)設(shè)施要求，可以將 Epsilon 4 放到生產(chǎn)過程中靠近生產(chǎn)線的任意位置。 其高性能使大多數(shù)應(yīng)用能夠在環(huán)境條件下運(yùn)行，從而降低氦氣或真空維護(hù)的成本。
能量色散式 X-射線熒光光譜儀可分析從碳 (C) 到镅 (Am) 的元素，涵蓋從百萬分之一以下到 100 wt% 的濃度。
將 Omnian 用于無標(biāo)分析，當(dāng)需要快速分析鑒定時(shí)，則使用 FingerPrint 來進(jìn)行材料測(cè)試，或者使用 Stratos 來對(duì)涂層、表面層和多層結(jié)構(gòu)進(jìn)行快速、簡單和非破壞性的分析。 還可以使用支持與 FDA 21 CFR 第 11 部分等法規(guī)合規(guī)的增強(qiáng)的數(shù)據(jù)安全性，或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新潤滑油和使用過的潤滑油。
高樣品兼容性
Epsilon 4 對(duì)于不同形態(tài)的樣品都游刃有余，典型樣品如粉末、液 體和固體?？梢詰?yīng)用于從水泥到纖維等不同類型產(chǎn)品的元素成分分析。如果沒有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)可用或樣品種類太多，馬爾文帕納科無標(biāo)分析解決方案將為您提供快速可靠的分析結(jié)果。
Epsilon 4 是穩(wěn)健、可靠的傳統(tǒng)系統(tǒng)替代方案，已在許多行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用，甚至在輕元素分析最為重要的環(huán)境中，包括：水泥生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、RoHS 篩選及定量、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、玻璃生產(chǎn)、法醫(yī)學(xué)、制藥、保健產(chǎn)品、環(huán)保、食品和化妝品。
Epsilon 4 是高度靈活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于從研發(fā)到過程控制等各個(gè)領(lǐng)域的元素分析 (F - Am)。 要實(shí)現(xiàn)更高的樣品處理量或擴(kuò)展的輕元素功能，并且處于更加具有挑戰(zhàn)性的環(huán)境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以對(duì)碳、氮和氧進(jìn)行分析。
Epsilon 4 儀器將射線探測(cè)技術(shù)與分析軟件結(jié)合到了一起。 15 瓦 X 射線管與大電流 (3 mA)、硅漂移探測(cè)器 SDD30 以及緊湊的光路設(shè)計(jì)相結(jié)合，提供了甚至超過 50 瓦功率 EDXRF 系統(tǒng)以及臺(tái)式 WDXRF 系統(tǒng)的分析性能 - 同時(shí)還額外提高了能源利用效率。
利用可生成更高強(qiáng)度的硅漂移探測(cè)器技術(shù)實(shí)現(xiàn)迅速測(cè)量。
探測(cè)器電路提供的線性計(jì)數(shù)率可超過 1,500,000 cps（在 50% 的死時(shí)間下），和計(jì)數(shù)率無關(guān)的分辨率通常高于 135 （eV@300 kcps），可更好地對(duì)鄰近譜線進(jìn)行分離。強(qiáng)有力的探測(cè)性能使得 Epsilon 4 能譜儀超越了傳統(tǒng)臺(tái)式儀器，實(shí)現(xiàn)了更快的測(cè)試響應(yīng)和更低的檢出限。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運(yùn)行，因此與傳統(tǒng)的 EDXRF 臺(tái)式儀器相比，實(shí)現(xiàn)了更高的樣品通量。
Epsilon 4 的高性能使得許多應(yīng)用可以在空氣環(huán)境中運(yùn)行，從而減少了氦氣和真空的使用成本和切換時(shí)間。 在空氣中測(cè)量時(shí)，鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對(duì)氣壓和溫度變化很敏感。 內(nèi)置溫度和氣壓傳感器可補(bǔ)償這些大氣變化，確保在各種氣候條件下檢測(cè)的結(jié)果不受影響。
| 樣品處理 | X 射線管 | 檢測(cè)器 | 軟件 |
|---|---|---|---|
| 具備 10 個(gè)位置的可移動(dòng)樣品交換器 | 穩(wěn)定性高的金屬陶瓷側(cè)窗 | 高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD)，通常為 135 eV @ Mn-Kα | 通過 Omnian 無標(biāo)分析解決方案，進(jìn)行元素篩選 |
| 光譜儀最多可容納直徑 52 毫米（2 英寸）的樣品 | 50 微米薄鈹窗，對(duì)輕元素高度敏感（Na、Mg、Al、Si） | 最大計(jì)數(shù)率 1,500,000 c/s（在 50% 的死時(shí)間下） | 通過 FingerPrint 解決方案，進(jìn)行合格/不合格分析 |
| 包含自旋器，以提高空氣濾清器分析的準(zhǔn)確性 | Ag 陽極 X 射線光管，獲得 P、S 和 Cl 分析的最佳性能 | 薄入探測(cè)器射窗，高靈敏度 | 在監(jiān)管環(huán)境下，增強(qiáng)數(shù)據(jù)安全性 |
| 大樣品模式最大可分析高 10 cm 的較大樣品 | 用于多層樣品的 Stratos | ||
| 使用 Oil-Trace，在新潤滑油和使用過的潤滑油中對(duì)磨損金屬進(jìn)行靈活校準(zhǔn) |
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